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構半導體製造管理目標層級架構與製造資料之資料挖礦
| 簡禎富 蕭禮明 王興仁 頁碼：313-327 |
| 摘要 |
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晶圓良率損失資料分群模式之研究
| 劉淑範 陳飛龍 頁碼：328-338 |
| 摘要 |
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IC元件X、Y平面及Z方向置放良率分析
| 謝至傑 黃乾怡 頁碼：339-348 |
| 摘要 |
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使用S管制圖及MLE法以分辨階梯式改變干擾產生啟始點之研究
| 邵曰仁 侯家鼎 頁碼：349-357 |
| 摘要 |
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混合式預測模式之發展─預測台灣股價指數之波動
| 張百棧 王彥文 楊雯寧 頁碼：358-368 |
| 摘要 |
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以資料包絡法與投資報酬法評量產業績效─以台灣IC設計業為例
| 胡志堅 黎漢林 頁碼：369-383 |
| 摘要 |
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以訂購量及前置時間為決策變數之存貨模式研究─需求頻率及需求量分別服從卜瓦松及常態分配
| 朱艷芳 林為欽 頁碼：384-394 |
| 摘要 |
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OEM接單型態下電子化協同設計參考模式之研究
| 陳銘崑 廖一青 頁碼：395-408 |
| 摘要 |
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| 9.
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動態X光影像強化與瑕疵分類之研究
| 江行全 廖克東 李淑惠 王建智 張子仁 劉永賢 頁碼：409-421 |
| 摘要 |
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